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成分分析

成分分析

成分分析和材料鉴定

成分分析和材料识别方法可用于确定未知材料的成分,确认可疑材料的身份并识别相似材料之间的差异。未知组件通常可能是导致难题的根本原因,因此识别意外材料的存在非常重要。EAG 通过使用单独和组合的成分分析技术与专家数据解释相结合,开发了识别和表征未知物的专业知识。


分成分析一般有以下作用:

1.了解原材料成分、质量控制

2.用于分析产品配方,可以快速恢复基本配方

3.寻找产品标签的证据

4.证明产品不含任何成分

5.找出产品性能下降的原因

6.了解配料的内容,了解产品性能

7.解决生产过程中的问题

8.比较不同时期的产品

9.它能迅速找出未知物质的原因,消除隐患。

10.可用于改进产品配方和模拟生产。


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成分分析项目



HQG的科学家已经确定了在涂料、塑料、食品、消费品、化学品、药品、医疗器械、半导体、消费品、添加剂、粘合剂等中(或表面)发现的多种材料。我们的实验室已经确定了以下材料:


表面上的未知残留物

未知粒子

未知的有机和无机材料

意外的异物

未知的添加剂或表面活性剂


一旦我们确定了材料的化学性质,通过进一步的材料表征更好地了解成分可能变得很重要。有了这些信息,我们能够帮助我们的客户:


确定已识别材料的潜在来源

比较两种不同材料的化学成分

确认可疑材料的身份

从产品的潜在竞争对手或新供应商处识别材料



成分分析的选择技术取决于许多因素:

对样本有什么了解?

什么需要量化(主要元素、微量元素、化学成分或分子/有机成分)?

这是表面分析、体积分析还是层分析?

可以使用破坏性测试方法吗?

样本是否独特?

为了了解产品的配方,HQG的逆向工程(变形)服务帮助客户了解其产品的化学成分。了解有关变形的更多信息。


表面分析


元素和化学表面成分最好使用具有浅信息深度 (<100 Å) 的定量技术测量,例如俄歇电子能谱法(通常仅导电材料)或X 射线光电子能谱法(所有材料)。


批量分析


体积成分最好使用具有大/深信息深度的技术来确定,这些技术忽略了表面/表面的潜在成分变化。这些方法通常无法获得特定于深度的信息。X 射线荧光(XRF) 和电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES) 是可以量化主要和次要元素成分的最相关技术。傅里叶变换红外光谱(FTIR) 和拉曼光谱非常适合识别塑料、聚合物和其他有机材料。



薄层分析


分析薄层和薄膜的技术取决于所需的信息和样品特性。对于薄膜中已知主要元素的定量,卢瑟福背散射光谱法(RBS) 是首选技术。如果不知道感兴趣的薄膜的主要成分,X 射线光电子能谱(XPS) 是一个不错的选择。如果分析区域的大小受到限制(并且也是导电的),则可以使用俄歇电子能谱(AES)。二次离子质谱(SIMS) 在半导体薄膜的高精度成分测量方面具有一系列应用。傅里叶变换红外光谱(FTIR) 和拉曼光谱非常适合从有机薄膜中获取化学或分子信息。


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